XRF - Spettroscopia a fluorescenza di raggi X

Determina in modo rapido la composizione elementare di un campione, individuando eventuali sostanze indesiderate come il Piombo, e verifica la conformità ai requisiti di specifica delle finiture superficiali.

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LA NOSTRA OFFERTA

La tecnica di spettroscopia a fluorescenza di raggi X è un ottimo e rapido strumento per la caratterizzazione chimica di campioni, specialmente di natura metallica, e ci permette, tra le altre cose, di individuare la presenza di sostanze quali Piombo e Cadmio, bandite con la normativa RoHS.

Inoltre, mediante l’utilizzo di programmi specifici e finemente tarati, lo strumento Fischerscope X-DAL è in grado di restituire precise misure di spessore delle principali finiture utilizzate in elettronica (es. strati di Nichel e Oro per la finitura ENIG), rendendo possibile i controlli di incoming per nuovi lotti di fornitura o l’identificazione di condizioni non conformi nelle analisi dei guasti.