Qualità
controllo avanzato
Stabilità
dei materiali
Ottimizzazione
dei processi
L'analisi SEM
L’analisi SEM (Scanning Electron Microscopy) consente di osservare in dettaglio la morfologia e la qualità delle superfici dei circuiti stampati, dei componenti assemblati, e di altri materiali utilizzati dall’industria elettronica, individuando difetti, contaminazioni o anomalie microscopiche.
La sonda EDS (Energy Dispersive Spectroscopy), integrata al SEM, permette di identificare e analizzare la composizione chimica dei materiali, supportando il controllo qualità, l’analisi dei guasti e la verifica dei processi produttivi.
